中規模光学計測システムとは

中規模光学測定システムは、すべての方向の材料表面の反射および透過特性を分析し、測定することができる。測定可能なパラメータには，双方向伝送分布（btdf），双方向反射分布（brdf），反射率分布，透過率分布，全反射（tir），トータル散乱（tis）などがある。brdf／btdfデータは，光学系シミュレーション測定と設計に使用できる材料，光学膜材料及び他の多くの材料の表面光学特性の定量的解析のための光学設計ソフトウェアに導くことができる。

媒体サイズ光学測定システムの主な特徴。

中サイズの光学測定システムの主な特徴。 2絶対法は試料の形態と光学的性質によって制限されない。

3 .テスト光路および計算方法は、完全にASTM E 2387および他の規格の要件を満たす。

4 .テストデータは、光学材料やシステムのシミュレーションと設計を支援するTraceProなどの光学設計ソフトウェアにエクスポートすることができます。

5 .高精度、高安定性：長受信光パス、小さな受信角度と小さな測定の不確実性；レーザー源、高エネルギー、良いモノクロ、高コリメーション；測定に光源の変動の影響を排除する監視検出器を備え、検出器の大きなダイナミックレンジ、高いテスト精度；高いメカニカルシャフトの回転精度，高角度分離良好な分解能と再現性

6 .表面散乱性能の総合的解析：双方向反射分布関数BRDF；双方向透過分布関数BTDF：反射率分布、透過率分布、全反射率TIR；全散乱率

。光源は自由に切り換えられ、波長は近紫外の可視範囲を覆う。異なる色の照明下で材料表面の散乱特性を測定できる。スペクトル選択性を有する試料に適している。

8 .上位計算機の多機能解析ソフトウェアは，brdf／btdf二次元および三次元解析マップを提供し，bsdf分布データ表示のための特別なソフトウェアを備え，専門的なsdsdfデータ解析を提供する。